IV+EL電池自動分選機該設備主要用來模擬太陽光和采集晶硅光伏電池的伏安特性曲線，設備采用長弧脈沖氙燈瞬態光源，光源等級滿足IEC60904-9 ed3 A+A+A+等級，可測量常規多晶、單晶Perc、 Topcon、BC、異質結等高容性電池的I-V 曲線，P-V 曲線，輻照度線，短路電流，開路電壓，峰值功率，峰值功率點電壓、電流，填充因子，轉換效率，串聯電阻，并聯電阻等。

更新時間：2025-11-07

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脈沖氙燈太陽光模擬器

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AM0太陽光模擬器:原理、參數、應用及分類

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IV+EL電池自動分選機該設備主要用來模擬太陽光和采集晶硅光伏電池的伏安特性曲線，設備采用長弧脈沖氙燈瞬態光源，光源等級滿足IEC60904-9 ed3 A+A+A+等級，可測量常規多晶、單晶Perc、 Topcon、BC、異質結等高容性電池的I-V 曲線，P-V 曲線，輻照度線，短路電流，開路電壓，峰值功率，峰值功率點電壓、電流，填充因子，轉換效率，串聯電阻，并聯電阻等。

IV+EL電池自動分選機主要產品參數

適配標準 Standard	IEC60904-9:2020	IEC60904-9:2020
光源類型 Light type	氙燈瞬態光源	Xenon lamp
光源壽命 Light source lifetime	≥2000000	≥2000000
光譜范圍 Spectrum wavelength	300-1200nm	300-1200nm
光源等級 Classification of light source	光譜匹配度 0.875-1.125 A+ 輻照度不均勻度 ≤1% A+ 輻照度不穩定度 ≤1% A+	Spectral match is 0.875-1.125, class A+ Irradiance non-uniformity is ≤1%, class A+ Irradiance instability is ≤1%, class A+
輻照度范圍 Irradiance intensity	200W/㎡~1200W/㎡	200W/㎡~1200W/㎡
測試面積 Illumination area	? 240*240mm ? 可定制其他尺寸	? 240*240mm, ? Other size can be customized
重復性精度 Repeatability	≤0.03%	≤0.03%
脈沖寬度 Pulse duration	10-100ms，每1ms步進可調	10-100ms, in step of 1ms
測試技術 Testing technology	標配線性掃描，高級遲滯算法、集成智能測試法（IAT）、暗場測試	With four quadrant load, it equipped linear scanning, advanced magnetic hysteresis, intelligent testing method (IAT) , and dark field testing
測試電池 Measurable Cell type	多晶、單晶、Topcon、BC、異質結等電池	Poly-crystalline, Mono-crystalline, TopCon, BC, HJT and other high capacitance cells.
測試產能 Capacity	≥2200pcs/h，可定制高速機	≥2200pcs/h, higher speed can be customized
定位方式 Postioning	光學定位	Optical positioning
上料模組 Material loading	2個上料盒	2 Bins
下料模組 Material unloading	4個下料工位，采取伯努利真空吸盤放置	4 Bins, taking by Bernoulli vacuum sucker
可增配項 Optional service	? 增加背面光源，實現雙面雙測 ? EL測試系統，實現同工位IV/EL測試 ? AOI測試系統，實現顏色的自動分選 ? 集成IR紅外熱像儀，實現熱斑測試 ? 雙通道測試技術，實現同時測試雙半片電池	? Rear side light is designed for measurement of bifacial solar cells ? EL testing system can achieve IV and EL testing at a same production section ? AOI testing system, to realize automatic sorting of color ? Integrated with IR infrared thermal imager to realize heat spot testing ? Double channel testing technology, to achieve simultaneous testing of two half-cut cells